半导体与电子制造行业解决方案：高精度机器视觉光源控制系统 ——基于DV2H244C多通道光源控制器的应用

半导体与电子制造行业解决方案：高精度机器视觉光源控制系统——基于DV2H244C多通道光源控制器的应用

行业痛点与需求

半导体与电子制造对缺陷检测的精度要求极高（微米级），且需适应高速、多场景的自动化产线。传统光源系统存在响应延迟、亮度不稳定、多角度协同困难等问题，易导致漏检或误判。

DV2H244C控制器核心优势：

高精度触发（<8μs延迟）满足高速产线同步需求；

四通道独立控制（单通道2.5A/4A峰值）支持多光源角度组合；

宽电压输出（20-26V）兼容红外/UV等特殊波长光源；

串口+外触发隔离输入，无缝集成PLC或视觉软件。

典型应用场景与解决方案

1. 芯片封装检测：焊线缺陷识别

挑战：金线焊点直径仅20-50μm，需多角度光源凸显缺陷轮廓。

解决方案：

多通道协同照明：

通道1（环形光源）：顶部打光，检测焊盘污染；

通道2（低角度线性光源）：侧向照射，突出金线三维形貌；

通道3（同轴光）：反射检测焊线偏移。

动态触发控制：通过外触发信号（5V PLC脉冲）同步光源与相机，在封装机运动间隙触发毫秒级高亮曝光，避免运动模糊。

效果：检出率提升至99.8%，误判率<0.1%。

2. PCB焊点检测：BGA虚焊与桥接

挑战：BGA焊点隐藏于芯片底部，需特定波长激发焊锡异常反射。

解决方案：

红外/UV光源控制：

通道1（940nm红外光源）：穿透PCB表层，检测焊锡内部气泡；

通道2（365nm UV光源）：激发焊锡表面荧光，凸显桥接区域。

亮度分级调节：通过串口发送指令（如COM1:CH2=80%），动态调整UV光源强度，避免过曝。

隔离保护设计：外触发接口接入24V传感器信号（串联1kΩ限流电阻），防止高压干扰。

效果：虚焊检出精度达10μm，桥接识别速度0.2s/点。

扩展应用场景

晶圆表面划痕检测：四通道控制暗场照明，凸显不同方向划痕；

FPC柔性电路板对位：多频闪光源消除反光干扰。

厂商服务支持

深圳华盛智控提供：

定制化光源选型建议（如搭配同轴红外透镜）；

串口通信协议二次开发支持（兼容Modbus/自定义协议）；

产线环境适应性测试（-20°C低温启动验证）。

结论：DV2H244C通过高响应、多通道协同及灵活控制方式，为半导体与电子制造提供可靠的视觉照明解决方案，显著提升缺陷检测效率与准确性。